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GW-4040XRF巖屑元素分析儀
GW-4040 XRF巖屑元素分析儀
GW-4040型XRF巖屑元素分析儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。將X射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井是目前巖屑分析中最快速最便捷的技術,這項技術的獨到之處在于:能過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性,再通過巖性的組合特征分析來判斷層位.因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
測量內容:Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
使用用途:油氣開采過程中的巖屑錄井檢測
產品特點
  • 性能

    高性能
    優選進口X射線管以及高性能探測器,確保長期的穩定性以及準確度。
    快響應
    相對于傳統的實驗室化驗等方式,光學檢測手段可以一秒內可以進行多次檢測。
    長壽命
    無需耗材,壽命最長可達5-8年,綜合使用成本更低。
  • 便攜性

    相對于傳統類的實驗室設備,我們的光學設備無需任何耗材以及輔助設備,方便在作業現場進行便攜使用。
    為了更好的讓客戶在野外操作,設備還需抗震和牢固,我們首先給設備配備了拉桿式鋁合金包裝箱,讓運輸更安全。
    其次整體光路模塊采用整體不銹鋼CNC一體加工,從來穩定性牢固性更好。
  • 準確性

    儀器集成了管壓檢測、溫度檢測,實時監控腔內的真空壓力和溫度,確保檢測的精度。
    真空腔內置過濾隔離裝置,仿制待測體的灰塵進入探測器探頭和射線管端子,導致污染損壞。
    內置步進電機使樣品環在檢測過程中始終處于旋轉狀態,提供檢測的準確度。
技術指標
分析元素

Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

探測下限

Al、Si、P、S、Ca:0.01%

Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn:0.001%

分析范圍 0.0001%-100%

能量范圍

1-30keV

采樣時間

<180s

重復性誤差

≤±1%F.S

穩定性 ≤±1%F.S
輸出信號

RS-232&USB數字輸出

配件

真空泵+筆記本電腦+壓片機

外殼尺寸

355*250*380(長*寬*高)

重量

36Kg


*具體量程可能會有細微偏差。

*工作在溫度25℃和1013mbar測試數據。

技術原理
應用領域
GW-4040型XRF巖屑元素分析儀,是本公司針對石油氣、天然氣、煤層氣、頁巖氣等清潔能源的開采而專門開發的高精度光學巖屑元素分析儀??梢院芎玫慕鉀Q人工判斷的誤差性,以及傳統設備的不便捷性,更好了為測錄井提供原始數據。該設備小巧無輔助設備,目前在油田得到廣大客戶的使用。
產品主要用于以下場合:
● 油氣鉆井巖屑錄井;
● 物探巖石檢測等。
同類機型
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